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转接模块 / Adapters
ADP-BGA256

BGA256 高密度转接座

0.5 mm 球间距 BGA256 转接模块,高密度针床设计,适合大容量存储与 SoC。

  • BGA256
  • 0.5 mm
  • 高密度
封装
BGA256
球间距
0.5 mm
球数
256
咨询报价
01

概述

覆盖 QFP、BGA、QFN、TSOP 等主流封装的转接座与底板,兼容 SG 与 S 系列全系烧录器。测试座可单独更换,非标封装支持按图定制。

按封装、引脚数与引脚间距三个参数即可选型;测试座为可更换件,非标封装支持按图定制,起订量 5 只。

典型场景

  1. 01烧录器换封装时的转接
  2. 02产线治具与烧录机对接
  3. 03小批量多封装快速切换
  4. 04非标封装按图定制
02

核心特性

01

0.5 mm 细间距针床

支持高密度 BGA

02

针床分区供电

降低压降与串扰

03

配套定位框

避免放片偏移

03

技术规格

封装与结构

封装
BGA256
球间距
0.5 mm
球数
256

接触与寿命

接触方式
细间距弹簧针
接触寿命
≥ 15 万次
工作温度
-40 ~ 125 ℃
04

配套与配件

ADP-SOCKET
备用测试座
按封装选型
ADP-FRAME
治具定位框
快换式
05

常见问题

怎么确认选哪个转接模块?

按器件封装、引脚数与引脚间距三个参数选择即可,例如 QFP48 / 0.5 mm 对应 ADP-QFP48。拿不准时提供器件型号,我们帮你确认。

测试座坏了要换整个模块吗?

不需要。转接模块的测试座为可更换件,单独订购测试座即可,底座与治具接口继续使用。

非标封装能定制吗?

可以。提供封装图纸或样片即可评估,通常 2–4 周出样,起订量 5 只。

接触寿命大概多少?

弹片式测试座标称 10 万次,弹簧针式 20 万次。实际寿命与引脚镀层、压合力有关,建议按 8 万次更换以保持良率。

Sample / Quote

需要样机测试或定制配置?

提供板卡或封装信息,我们会在 1 个工作日内给出选型建议与报价。

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